Międzyinstytutowe Laboratorium Mikroanalizy Minerałów i Substancji Syntetycznych (Pracownia Mikrosondy Elektronowej)
Placówki tworzące Międzyinstytutowe Laboratorium Mikroanalizy Minerałów i Substancji Syntetycznych (Pracownia Mikrosondy Elektronowej):
- Wydział Geologii, Uniwersytet Warszawski
- Wydział Nauk o Ziemi UOE
- Instytut Geologii UAM
- Instytut Nauk Geologicznych UWr
- Instytut Nauk Geologicznych PAN
- Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Pracownia Mikrosondy Elektronowej
Telefon: (+48 22) 55 40 324
Pokój: 2066
Dr Petras Jokubauskas (specjalista badawczo-techniczny)
Telefon: (+48 22) 55 40 323
Pokój: 2088
E-mail:
Dr Beata Marciniak-Maliszewska (specjalista badawczo-techniczny)
Telefon: (+48 22) 55 40 328
Pokój: 2037
E-mail:
Analizy chemiczne w mikroobszarze:
OPIS:
Oznaczanie składu chemicznego ciał stałych na podstawie badań skrajnie małych próbek metodą mikroanalizy rentgenowskiej. Polega ona na pomiarze charakterystycznego promieniowania X emitowanego przez pierwiastki wzbudzone wiązką elektronów skupioną na powierzchni próbki w polu o średnicy [lt] 1µm. Analizowana masa próbki jest rzędu 10-11 g. Metoda jest nieniszcząca i bardzo szybka. Materiał badany jest jednocześnie obserwowany w mikroskopie świetlnym i elektronowym, także z wykorzystaniem katodoluminescencji.
SŁOWA KLUCZOWE:
mikroanaliza rentgenowska, pierwiastki lekkie, pierwiastki ziem rzadkich
INNOWACYJNOŚĆ:
Choć prezentowana metoda analizy jest od dawna stosowana w nauce i praktyce, to atutem naszego laboratorium jest wyposażenie w najnowocześniejszą mikrosondę, o wyjątkowej precyzji - Cameca SX-100. Umożliwia ona oznaczanie pierwiastków od B do U, przy wykrywalności 0,01% i błędzie względnym 1%.
Szczególną jej zaletą jest bardzo wysoka dokładność oznaczeń pierwiastków lekkich (B, N, C, O, F) oraz ziem rzadkich (REE), a także możliwość analizowania materiałów wielowarstwowych o grubości warstw rzędu nanometrów. Aparat pozwala ponadto na radykalną redukcję kosztów pojedynczego badania dzięki doskonałej stabilności warunków pomiarowych, eliminującej konieczność powtarzania czasochłonnych pomiarów kontrolnych na wzorcach oraz automatyzacji zadań i bezobsługowej pracy non-stop.
ZASTOSOWANIE:
Jakosciowe i ilościowe oznaczenia składu chemicznego wszelkiego rodzaju ciał stałych na których można uzyskać:
- gładkie powierzchnie;
- analizy mikroniejednorodności - wrostków i wydzieleń;
- analizy materiałów warstwowych (do 15 warstw);
- analizy punktowe - pełne lub realizowane w specjalnym reżimie, analizy śladów ([gt] 10 ppm);
- badania liniowego i powierzchniowego rozkładu zawartości pierwiastków (profile i mapy o rozdzielczości 2048 x 1536 pikseli).
FORMA WSPÓŁPRACY:
- usługi analityczne;
- wspólne opracowania.